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    吸附分析儀器

    簡要描述:XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性。

    XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。

    • 產品型號:XEM
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2021-09-03
    • 訪  問  量:520
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         XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。

    產品特點

    • 外部感知技術,把敏感元件置于天平室外部,允許腐蝕性和易燃氣體的操作

    • 幾何對稱、精密設計的微量天平

    • 內部容積小化

    • 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和長期穩定性±5μg

    • 寬動態稱量范圍(0-200毫克)

    • 操作壓力高達200bar

    • 單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量

    • 無需重新歸零或原位校準

    • 采用IGA特有的終點預測方法

    • 全金屬結構由高品質的VCR裝配

    • 模塊化設計,與所有配件兼容且可升級

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