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    二次離子質譜儀

    簡要描述:二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。

    • 產品型號:SIMS Workstation
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2022-07-27
    • 訪  問  量:1047
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    二次離子質譜儀
    1. 適合做多層薄膜的深度分析。

    2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。

    3. 方便使用。

    4. 樣品可以手動轉換,由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。

    5. 我們的系統可配置快速原子槍,使我們可以輕松處理絕緣的樣品。

    6. 我們還可以做元素成像(就象化學地圖)和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。

    7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺,很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊,但不損失性能。真正的高性價比。


    高靈敏度脈沖離子計數檢測器,7個數量級的動態范圍
    SIMS 成像,分辨率在微米以下
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