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    濺射中性粒子質譜儀

    簡要描述:MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子,所具備的的30&#176;接受角可形成樣品粒子平面,應用于SIMS和SNMS的光學采樣。
    &#183;光柵控制,增強深度分析能力
    &#183;所有能量范圍內,離子行程的小擾動,及恒定離子傳輸
    &#183;靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器

    • 產品型號:MAXIM
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2021-09-03
    • 訪  問  量:689
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    MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應用于SIMS和SNMS的光學采樣。

    ·光柵控制,增強深度分析能力 ·所有能量范圍內,離子行程的小擾動,及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·

    ?質量數范圍: 300amu,500amu,1000amu ·檢測器: 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器: 3F四級桿 ·桿直徑: 9mm ·加熱: 250℃ ·離子源: 電子轟擊,可用于SNMS和RGA的單根燈絲

     

    MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應用于SIMS和SNMS的光學采樣。 ·光柵控制,增強深度分析能力 ·所有能量范圍內,離子行程的小擾動,及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·質量數范圍: 300amu,500amu,1000amu ·檢測器: 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器: 3F四級桿 ·桿直徑: 9mm ·加熱: 250℃ ·離子源: 電子轟擊,可用于SNMS和RGA的單根燈絲

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