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      时间:2022-11-22型号:TOF-qSIMS浏览量:4003
    • SIMS Workstation二次离子质谱仪
      二次离子质谱仪适合做多层薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。
      时间:2022-11-08型号:SIMS Workstation浏览量:1259
    • MAXIM溅射中性粒子质谱仪
      MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。 ·光栅控制,增强深度分析能力 ·所有能量范围内,离子行程的小扰动,及恒定离子传输 ·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
      时间:2022-11-08型号:MAXIM浏览量:829
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